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牛津膜厚测试仪特点:
镀层测厚仪X-Strata920系列具有高性价价比,有着非破坏、非接触、多合金测量、测量元素范围广、测量精准、测量时间短等特点;具有高生产力、高再现性,能有效控制产品质量,节约电镀成本。
牛津膜厚测试仪参数:
型号 | P920-S | P920-MWS | P920-MWM | P920-AM | |||
名称 | 半自动 | 自动台 | |||||
固定台 | 单准直器加深台 | 多准直器加深台 | |||||
样品图片 | |||||||
测量元素范围 | Ti22---U92 | ||||||
镀层和成分分析 |
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测量方法 |
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X射线激发 |
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成像系统 |
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计算机系统 |
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样品台规格 |
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仪器外形 宽×深×高 | 407×770×305mm | 407×770×400mm | 610×1037×375mm | ||||
Z轴 | 使用鼠标控制,程控移动距离43mm | ||||||
准直器规格 |
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探测器 | 正比例计数器 | ||||||
工作原理 | 对被测样品发射一束一次X射线,样品的原子吸收X射线的能量后被激发并释放出二次X射线。每个化学元素会释放出特定能量的X射线。通过测量这些释放出的二次X射线的特征能量和强度,X射线分析仪就能够对被测材料的镀层厚度和成份提供定性和定量分析 | ||||||
安全性 |
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结果输出 |
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